证券之星消息，根据天眼查 APP 数据显示胜科纳米（688757）新获得一项实用新型专利授权，专利名为 "X 射线无损分析装置 "，专利申请号为 CN202422226967.3，授权日为 2025 年 7 月 4 日。

专利摘要：本实用新型涉及半导体晶圆检测技术领域，尤其涉及一种 X 射线无损分析装置。该 X 射线无损分析装置包括壳体、载物台、架体、探测器和激光打标器。其中，载物台位于壳体内，且载物台与壳体的底部滑动连接；载物台被配置为放置样品。架体位于壳体内。探测器与架体滑动连接，探测器架设于载物台的正上方，探测器被配置为检测样品的内部结构。激光打标器设置在探测器的上方，且激光打标器与探测器同轴设置，激光打标器被配置为对样品的表面做镭射标记。该 X 射线无损分析装置能够提高研磨和制样的工作效率，省时省力，达到节约成本的目的。

今年以来胜科纳米新获得专利授权 2 个。结合公司 2024 年年报财务数据，2024 年公司在研发方面投入了 4580.41 万元，同比增 7.62%。

通过天眼查大数据分析，胜科纳米（苏州）股份有限公司共对外投资了 6 家企业，参与招投标项目 40 次；财产线索方面有商标信息 64 条，专利信息 95 条，著作权信息 3 条；此外企业还拥有行政许可 25 个。

数据来源：天眼查 APP

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