来源：看点时报

晶体是一个重要的被动器件，如果晶体的频率不稳，甚至不起振，就会导致设备屏幕闪烁，时间不准确，通讯失败等情况。

负载电容是影响晶体频率的重要参数，负载电容也叫 CL，当 CL 满足一定条件，才会输出目标频率。比如参数为 12.5pF，32.768kHz，± 20ppm 的晶体。指的是当 CL=12.5pF 时，就是外围所有电容的集合为 12.5pF 时，输出的频率才是 32.768 kHz ，± 20ppm。

因此晶体的选型匹配十分重要，爱普生为客户提供晶体回路匹配测试，简称 CE 测试。客户提供原理图和电路板，我们进行 CL 的调整，评估输出频率，驱动功率，起振能力，使其工作在一个稳定的、适合的状态。正所谓：

时钟偏差问题多，

工程采购不背锅。

罪魁祸首是晶体？

CE 测试好处多。

通过上面的视频，大家对 CE 测试一定有了更深入的了解。如需了解CE 测试相关流程可通过邮件咨询：ecc-electronicdevice@ecc.epson.com.cn，同时自 2024 年 12 月起，部分爱普生的授权代理商也会开始提供面向社会的 CE 测试，届时将有更多客户可以享受这项服务。

爱普生还上线了选型与购买系统 " 爱普生电子元器件易选中心 " （爱普生电子元器件易选中心 _ 电子元器件 – 爱普生中国   ( epson.com.cn ) ，对不同人群提供了多种选型指南与购买方式，可谓 " 一键选型，送货到家。快来尝试一下吧！

（* 客户选型后由爱普生授权第三方提供销售与配送服务，爱普生不对第三方行为负责。）

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